010-87681080
010-87681080
產品中心
PRODUCTS CNTER
相關文章
品智創思APO超長半導體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產品檢測專業打造的，填補高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領域市場發展空白。不同于傳統的金相顯微鏡，
產品型號：PZ-40MT-BD
瀏覽量：1995
白光共聚焦顯微鏡納米深度3D形狀顯微檢測儀不需要復雜光路調整程序，即可在非接觸、無破壞、普通大氣環境下完成3D納米深度的表面檢測分析，提供3D表面形狀和表面紋理的分析， 更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析。 納米深度3D形狀顯微檢測儀具有測量能力，可在幾秒內就完成整個視場的掃描，得到 測量樣品的3D圓形與高度數據，檢測速度與深度量測能力優于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡
產品型號：PZ-WLI-150瀏覽量：2158
PZ-X1便攜式金相顯微鏡是一種輕型小型金相顯微鏡適用于現場、野外的大型鋼材或半成品、成品工件進行金相檢驗，分析處理。儀器可對鋼鐵原材料的組織結構進行鑒定分析，也可以對鋼材材料進行熱處理后的各種組織結構變化的鑒定分析。
產品型號：PZ-X1瀏覽量：2208
M-100DIC型微分干涉數碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器。導電粒子金相顯微鏡采用無限遠光學成像系統，內置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭，體現了目視觀察的真實還原，以及數碼攝影與顯微成像的技術融合，觀察到的干涉圖像具有更強的立體感，適合于非透明材質的表面形態觀察，如液晶屏導電粒子的顯微形態。是精密制造領域內品質檢測、結構研究的理想儀器。
產品型號：PZ-6500瀏覽量：2234
微分干涉金相顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察, DIC觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動，機構升降平穩。產品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。
產品型號：PZ-200DIC瀏覽量：2282
當前位置：
產品分類
